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推扫式高光谱成像系统的基本概念

发布日期:2022-01-24 发布人员: 浏览次数:689

推扫式高光谱成像系统是一种用于农学、生物学、化学、物理学领域的分析仪器,于2017年12月14日启用。推扫式高光谱成像系统通过空中扫面或者室内扫面方式,获取地球表面或者地物的高光谱影像信息。

下面给大家分享推扫式高光谱成像系统的基本概念,希望能帮助大家更多的了解推扫式高光谱成像系统,我们一起来看一下吧。

推扫式高光谱成像系统的基本概念:

1.光谱分辨率

光谱分辨率(Spectral Resolution )指探测器在波长方向上的记录宽度,又称波段宽度(Bandwidth)

纵坐标(Y轴)为探测器的光谱响应,它是横坐标(X轴)所代表的波长的函数。光谱分辨率被严格定义为仪器在达到50%光谱响应时的波长宽度。

2.空间分辨率

●空间分辦率(Spatial Resolution)成像光谱仪的空间分辨率是由仪器的角分辨力(Angular Resolving Power),即仪器的瞬时视场角( Instantaneous Field of View,IFOV )决定的。

3.仪器的视场角

地面扫描幅宽仪器的视场角 (Field ofView, F0V)仪器的视场角是仪器扫描镜在空中扫过的角度,它与系统平台高度决定了地面扫描幅宽(Gr ound Swath,GS)仪器的视场角因此,在仪器设计时,FOV和IFOV是必须考虑的重要参数。

●仪器的视场角(FOV)较大,可以获得较宽的地面扫描幅宽。

●瞬时视场角(IFOV)较小,可以获得较高的空间分辨率。

4.调制传递函数

年高光谱成像仪光学成像中既有普通意义上的光学系统,如望远镜系统、光谱仪系统。也有如线列光纤狭缝和面阵探测器一类的离散采样系统。还存在系统之间的耦合等因素。

5.信噪比

信噪比(SignalNoise Ratio, SNR)是传感器所采集到的信号和噪声之比,是传感器的一个极其重要的性能参数。

信噪比的高低直接影响图像的分类和图像目标的识别等处理效果。

信噪比与空间分辨率、光谱分辨率是相互制约的,提高空间分辨率或者光谱分辨率都会降低

信噪比,须综合取舍。

7.探测器凝视时间

探测器的瞬时视场角扫过地面分辨单元的时间称为凝视时间(dwell time)。

探测器的凝视时间在数值上等于行扫描时间除以每行的像元个数。

探测器的凝视时间长短对成像质量有哪些影响?

凝视时间越长,进入探测器的能量越多,

光谱响应越强,图像信噪比越高。

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